El secretario de Educación, José Alfredo Botello Montes, asistió a la inauguración del Simposio de Metrología 2018, denominado “Impulso para la Innovación Tecnológica y el Desarrollo Sustentable”, organizado por el Centro Nacional de Metrología (CENAM).
Botello Montes enfatizó sobre la importancia de este simposio ya que se está redefiniendo el Sistema Internacional de Unidades por lo que estas acciones deben de ir encaminadas al desarrollo pleno y cuidando en todo momento el planeta, nuestra casa común,: “Es un gusto que aquí en Querétaro, corazón de la patria se estén dando cita expertos y especialistas quienes provocarán, sin duda, las mejores reflexiones y acciones para propiciar el Impulso para la Innovación Tecnológica y el Desarrollo Sustentable”, dijo.
Por su parte, el Director General del CENAM, Víctor José Lizardi Nieto dio la bienvenida al simposio y expresó que esta edición 2018 tiene un especial significado para la comunidad metrológica internacional ya que se realiza en vísperas de la redefinición histórica que tendrá el Sistema Internacional SI.
En este simposio se darán cita 170 conferencistas entre los que destacan los directores y expertos de 8 institutos nacionales, los cuales abordan temas como transferencia de tecnología, trazabilidad de las mediciones, uso eficiente de energía, biodiversidad, entre otros, y donde participan más de 400 personas, asimismo se imparten 14 cursos de capacitación y se exponen 44 empresas de instrumentos de medición y laboratorios secundarios, señaló.
Al inaugurar el simposio el Director General de Normas de la Secretaría de Economía, Alberto Ulises Esteban Marina, en representación del Secretario de Economía, Ildefonso Guajardo, envió un mensaje de felicitación al CENAM por la realización de este evento de relevancia Nacional e internacional ya que contará con la presencia de participantes provenientes de Alemania, Argentina, Canadá, Estados Unidos de Norte América, España, China, Afganistán, Ecuador, Cuba, Costa Rica, Perú, Corea del Sur, Francia, Japón e Italia. Y 11 Conferencias Plenarias presentadas por personalidades de reconocido prestigio internacional, provenientes de los Institutos Nacionales de Metrología más importantes del mundo, destacó.
Estuvieron presentes en el evento Walter Copan, Subsecretario Comercio y Director del Instituto Nacional de Estándares y Tecnología (NIST) de los Estados Unidos; Antonio Pérez Cabrera, Subsecretario de Desarrollo Económico SEDESU; Juan Carlos Corral Martín, Director General de ITP y Presidente del Aeroclúster de Querétaro, A. C.; Antonio Herrera Rivera, Presidente del Clúster Automotriz de Querétaro; Genaro Montes Díaz, Secretario de Desarrollo Sostenible en representación del Presidente Municipal de Querétaro, Luis Bernardo Nava Guerrero; Martin Milto, Director del BIPM; Alberto Ulises Esteban Marina, Director General de Normas; José de Jesús Cabrera Gómez, Presidente de la EMA; Raúl Iturralde Olvera, Director General del CONCYTEQ y la rectora de la Universidad Autónoma de Querétaro (UAQ), Teresa García Gasca entre otros invitados especiales.
